Sobre Pattern Vista — Reconocimiento de patrones gráficos bursátiles con IA

Nuestra historia

Pattern Vista fue fundada por un equipo de desarrolladores independientes y analistas cuantitativos que pasaron años trabajando en el sector tecnológico mientras operaban en los mercados en su tiempo libre. Nos topábamos una y otra vez con el mismo problema: revisar manualmente cientos de gráficos cada noche es lento, propenso a errores y fácil de equivocar tras una larga jornada. Creamos Pattern Vista para resolver ese problema, primero para nosotros y después para todos los traders que se enfrentan a él.

Qué hacemos

Nuestro sistema escanea automáticamente las acciones del Nasdaq 100 y el S&P 500 cada jornada bursátil, identificando más de 40 patrones gráficos clásicos y señales de indicadores técnicos, incluidos hombro-cabeza-hombro, dobles techos y suelos, rupturas de líneas de tendencia, Supertrend, divergencia MACD y momento ADX. En lugar de dedicar horas al análisis manual, obtienes una lista priorizada de las configuraciones más relevantes, lista antes de que abra la siguiente sesión.

Nuestra metodología

Combinamos la detección de patrones basada en reglas con la verificación cruzada de múltiples indicadores para reducir los falsos positivos. Cada patrón se valida frente a la estructura del precio, el contexto del volumen y los indicadores complementarios antes de aparecer en el panel. Nuestro enfoque se basa en la literatura clásica del análisis técnico y en décadas de comportamiento documentado del mercado, no en predicciones de caja negra.

Aviso legal

Pattern Vista tiene fines exclusivamente educativos e informativos. Nada en esta plataforma constituye asesoramiento de inversión, señales de trading ni recomendaciones de compra o venta de ningún valor. Todo trading implica riesgo y puede no ser adecuado para todos los inversores. El rendimiento pasado de los patrones no garantiza resultados futuros.

Contáctanos

¿Tienes comentarios, un informe de error o una solicitud de función? Leemos todos los mensajes.